Texas Instruments інтегрує діагностику стану LFP-комірок у мікросхему моніторингу
BQ79826Z-Q1 поєднує контроль 26 послідовно з'єднаних комірок з електрохімічною імпедансною спектроскопією; серійне виробництво очікують до кінця 2026 року.
Коротко
Texas Instruments представила BQ79826Z-Q1 із вбудованою електрохімічною імпедансною спектроскопією, або EIS. Технологія вимірює реакцію комірки на змінний тестовий сигнал на різних частотах, щоб отримати більше інформації про її внутрішній стан. У TI пояснюють, що пласка ділянка кривої напруги LFP ускладнює розрізнення зміни заряду та старіння лише за напругою. Дані EIS мають допомогти алгоритмам розділяти ці явища. Водночас якість вимірювань залежить від проводки, з'єднань і завад.
Одна мікросхема контролює до 26 послідовно з'єднаних комірок, тому для модуля зі 104 комірок достатньо чотирьох таких пристроїв. За словами представника TI, компанія вже надає досерійні зразки, а масове виробництво очікує до кінця 2026 року. Перші комерційні УЗЕ з цією мікросхемою можуть з'явитися у 2027 році.
Ключові висновки
Що можна зробити далі
